芯片 CP 测试与 FT 测试有什么区别？测试对象、探针卡/治具与成本对比

深度解析芯片 CP 测试与 FT 测试的核心差异。本文从测试对象、探针卡与测试治具的选择、以及测试成本构成三个维度进行专业对比，为半导体测试工程师及采购提供决策参考。

2026-08-13 检测知识